顆粒表麵Zeta電位的大小是表征懸浮液和膠體穩定性的重要參數。當Zeta電位較高時，粒子之間表現為排斥力大於吸引力，粒子傾向於分散，體係比較穩定；當Zeta電位較低時，粒子之間表現為排斥力小於吸引力，粒子傾向於團聚，體係穩定性被破壞。

　　測量動態光散射（DLS）（也被稱為準彈性光散射（QELS））的技術。其他DLS技術包括頻率分析和互相關函數。以懸浮在液體中並由相幹光源照亮的微粒所散射的光的強度來測量時間依賴波動納，米級微粒特征描述所采用的主要技術。

　　電位溶出分析法包括兩個獨立而又有聯係的過程，即富集過程和溶出過程，溶出又有氧化溶出和還原溶出之分。在氧化溶出時，富集電位控製在被測離子還原電位更負一些的電位上，使金屬離子還原生成汞齊而富集於電極表麵。電解富集一定時間後，斷開恒電位電路，借助氧化劑（溶解氧或Hg（I）等）的氧化作用使電極表麵的汞齊化金屬氧化成離子進入溶液中，即為溶出過程。

　　電聲法zeta電位91香蕉视频污黄下载特點如下：

　　■超寬動態光散射測量範圍：0.3~8000nm；

　　■可測納米粒子的三個重要要素：粒子直徑、Zeta電位和分子量；

　　■樣品濃度從ppm到百分之幾十，都能在原液狀態下取樣和測定；

　　■微量電泳樣品池，可以測定僅100ul的Zeta電位；

　　■廣泛應用於膠質粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定；

　　■取樣後，僅需按測定開始按鈕即可，操作簡單。

　　電聲法zeta電位91香蕉视频污黄下载可廣泛應用於生化、臨床分析、衛生防疫、環境監測、地質、冶金、化工、農業、科研等領域中的痕量分析。